XDL 系列 X 射線熒光測厚儀信息

德國菲希爾的 XDL 系列 X 射線熒光測厚儀，以其先進技術(shù)和可靠性能，成為眾多行業(yè)質(zhì)量檢測的得力助手。XDL 系列中的 XDL 240，在鍍層厚度測量及材料分析方面表現(xiàn)優(yōu)。

XDL 240 運用 X 射線熒光光譜法進行無損檢測，其自動聚焦功能可確保樣品完整性不受影響，同時保障測量的準(zhǔn)確性。在硬件性能上，它配備了移動范圍≥95x150mm 的動 X/Y 平臺，可用工作臺面≥420x450mm，能輕松放置多樣品并進行測量，且當(dāng)保護門開啟時，工作臺會自動移到便于放置樣品的位置，極大方便了操作。電動 Z 軸支持手動 / 自動聚焦，移動范圍≥140mm，可適配不同高度的樣品，讓各類樣品都能處于最佳測量位置。

該儀器采用測量距離補償法（DCM）這一創(chuàng)新技術(shù)，能夠?qū)崿F(xiàn) 80mm 深度的腔體樣品遠距離對焦測量，有效解決了深腔樣品測量這一行業(yè)難題。其可變高壓支持 30KV、40KV、50KV 三檔調(diào)節(jié)，用戶可依據(jù)不同的測試樣品和場景，靈活選擇合適的高壓，進而獲得精準(zhǔn)的測量結(jié)果。標(biāo)配的 φ0.3 的圓形準(zhǔn)直器可提升測量精度，此外，還有 φ0.1mm、φ0.2mm 及長方形 0.3mmx0.05mm 等多種準(zhǔn)直器可供選擇，滿足不同測量需求。X 射線探測器采用比例接收器，能穩(wěn)定接收信號，保證測量數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和可靠性。內(nèi)置的高分辨率 CCD 攝像頭，放大倍數(shù) 40 - 160 倍，便于操作人員觀察定位樣品。沿初級 X 射線光束方向可清晰觀察測量位置，配備的手動聚焦、十字線（帶有經(jīng)過校準(zhǔn)的刻度和測量點尺寸）以及可調(diào)節(jié)亮度的 LED 照明，還有用于準(zhǔn)確定位樣品的激光光點，都使得操作人員能夠快速、準(zhǔn)確地放置和定位樣品，大幅提高了檢測效率 。