泰勒霍普森粗糙度儀|TAYLOR

泰勒霍普森粗糙度儀技術(shù)指標(biāo)：

泰勒霍普森粗糙度儀測(cè)量范圍：200 um 100 um 10 um 

泰勒霍普森粗糙度儀分辨率：  100 nm 20 nm 10 nm 

泰勒霍普森粗糙度儀底噪(Ra)：250 nm 150 nm 100 nm 

重復(fù)精度 (Ra) ：1%測(cè)試值+底噪

傳感器原：電感

測(cè)量力：150-300mg

測(cè)針針尖半徑：標(biāo)配5 μm (200 μin) 可選2μm(80μin)或10μm(400μin)

測(cè)試方式：滑動(dòng)掃描

校準(zhǔn)：

自動(dòng)軟件校準(zhǔn)   標(biāo)準(zhǔn)：ISO4287

泰勒霍普森粗糙度儀測(cè)試參數(shù)：

泰勒霍普森粗糙度儀三個(gè)取樣長(zhǎng)度：0.25mm、0.8mm、2.5mm

泰勒霍普森粗糙度儀二個(gè)濾波器：2CR、Gaussian

評(píng)定長(zhǎng)度：0.25mm - 12.5mm (0.01 in - 0.49 in)可選

zui大行程：17.5mm

測(cè)試速度：

測(cè)試速度：1mm/sec(0.04 in/sec)

回程速度：1.5mm/sec(0.06in/sec)

測(cè)試參數(shù)：

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：ISO 4287,ISO13565-1,ISO13565-2,ASME46.1, JIS0601, N31007

ISO標(biāo)準(zhǔn)可以測(cè)量12個(gè)參數(shù)： Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1max

ASME標(biāo)準(zhǔn)可以測(cè)量11個(gè)參數(shù)：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, Rda

JIS標(biāo)準(zhǔn)可以測(cè)量14個(gè)參數(shù)：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc

其他 ：R3z (Daimler Benz)

測(cè)試單位：um/uin

泰勒霍普森粗糙度儀|TAYLOR