庫倫法測厚儀菲希爾代理

菲希爾庫倫法測厚儀用于質(zhì)量控制的庫侖法鍍層厚度測量儀

在一定的厚度以上，X射線熒光對鍍層的無損測量達到了極限，這就是COULOSCOPE®CMS2發(fā)揮作用的地方。它用庫侖法測量多種金屬鍍層的厚度，這是做相當簡單的退鍍處理。COULOSCOPE CMS2可以準確地測量許多常見的單層和多層鍍層。用于質(zhì)量控制的庫侖法鍍層厚度測量儀

庫侖法的成本效益高，可準確地替代X射線熒光法-前提是你可以接受一種破壞性的測量方法。它為您提供了很大的靈活性，因為它可以用于廣泛的鍍層組合。您可以使用庫侖法測量鍍層厚度，特別是在電鍍鍍層的質(zhì)量控制中，以及用于監(jiān)測印刷電路板上的殘余純錫厚度。

菲希爾庫倫法測厚儀STEP測試:庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳的電化學電位測量

如果你想在使用庫侖法測量鍍層厚度的同時測量電化學電勢，那么COULOSCOPE CMS2 STEP就是你的選擇。STEP測試方法可以同時測量多層鎳鍍層的電位差和鍍層厚度，非常適合測定這些鍍層的腐蝕行為。

菲希爾庫倫法測厚儀特性

• 高精度測量多層金屬鍍層的厚度(庫侖法)

• 根據(jù)DIN EN ISO 2177進行測量

• 通過彩色顯示屏和圖形支持的用戶指南直觀地操作

• 可輕松選擇電解速度(0.1-50微米/分鐘)和電解面積(0.6-3.2mm)

• 針對不同鍍層系統(tǒng)(如鐵上鍍鋅或黃銅上鍍鎳)預先設(shè)定了近100種測量應(yīng)用

• 測量單元上電壓曲線的圖形顯示

• 圖形和統(tǒng)計評估

• 帶支撐架的部分自動化測量，適用于各種樣品尺寸

• 全面的配件組合，以適應(yīng)特定的要求