菲希爾鍍層測厚儀|X射線

FISCHERSCOPE X-RAY XDL菲希爾無錫駿展儀器供應采用了基本參數(shù)法，因此無論是對鍍層系統(tǒng)還是對固體和液體樣品，儀器都能在沒有標準片的情況下進行測量和分析。其測量范圍為元素氯（17）到鈾（92）。適用于客戶進行質(zhì)量控制、進料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控。

典型的應用領域有：

• 測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件

• 測量超薄杜策，例如：裝飾鉻

• 測量電子工業(yè)或半導體工業(yè)中的功能性鍍層

• 全自動測量，如測量印刷線路板

• 分析電鍍?nèi)芤?/p>

菲希爾無錫駿展儀器FISCHERSCOPE X-RAY XDL 設計為界面友好的臺式測量儀器系列。根據(jù)不同的預期用途，有不同的版本。

菲希爾無錫駿展儀器XDL 210 型的工作臺為固定式工作臺，固定位置的 Z 軸系統(tǒng)。

菲希爾無錫駿展儀器XDL 220 型的工作臺為固定式工作臺，馬達驅動的 Z 軸系統(tǒng)。

菲希爾無錫駿展儀器XDL 230 型配有可手動操控的 X/Y 工作臺，馬達驅動的 Z 軸升降系統(tǒng)。

菲希爾無錫駿展儀器XDL 240 型則配備了馬達驅動的 X/Y 工作臺，當保護門開啟時，工作臺會自動移到放置樣品的位置。馬達驅動的可編程 Z 軸升降系統(tǒng)。

菲希爾無錫駿展儀器XDL系列儀器可選配圓形或長方形準直器，采用比例接收器，測量距離為0-80mm，使用**保護的DCM測量距離補償法。

使用高分辨率的CCD彩色攝像頭

儀器重量100kg-120kg

儀器使用時溫度范圍10℃-40℃，空氣相對濕度為≤95%，無結露

計算機要求：帶擴展卡的計算機系統(tǒng)

可按要求，提供額外的XDL型產(chǎn)品更改和XDL儀器技術咨詢